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　　深圳薄膜测厚仪厂家介绍，测厚仪已广泛应用于工业生产，有的已在大规模生产线上投入应用，取得了较好的效果，有的测厚仪正在进一步完善中，以发挥更大的威力功能。

　　根据测厚仪工作方式的不同，测厚方式一般分为非接触式测厚和接触式测厚。根据厚度测量的原理，测厚仪一般有以下几种。

　　1.1激光测厚

　　深圳薄膜测厚仪厂家表示，激光测厚是一种典型的非接触测厚，其原理是利用光电成像技术。引入激光作为测量工具，大大提高了测量系统的灵敏度和精度，充分利用激光方向性好、亮度高的优点，构建光学检测系统，达到测量厚度的目的。激光测厚采用差分测量法，利用两个激光位移传感器，用准直激光束上下照射被测板材，由CCD(电荷耦合器件)成像。将光学图像转换成电信号，电信号经相应模块处理后送至CPU。经过计算，得到被测物体上表面到激光传感器的距离和物体下表面到传感器的距离，最 后通过两个测量值和两个传感器。之间的距离值可以计算出物体的厚度。

　　激光测厚法适用于钢板、钢带等一些非透明材料的在线高速测厚。特别适用于环境极其恶劣的热轧钢生产线的在线测量和轧制厚度控制。

　　1.2射线厚度测量

　　射线厚度测量也是一种非接触式厚度测量。其原理是利用射线的强穿透力和穿透被测物体后强度的衰减来测量物体的厚度。目前，X射线主要用于工业生产。测厚仪和伽马射线测厚仪。X射线测厚原理如图1所示，当一束X射线通过被测物体时，会发生衰减。衰减的强弱与被测物体的厚度和材质有关。射线源发出一束强度为I0的射线，通过被测物体的吸收，到达另一侧传感器的强度为I。

　　1.3红外测厚

　　深圳薄膜测厚仪厂家表示，红外测厚主要用于薄膜生产，也是一种非接触测厚。对于特定材料的薄膜，其吸收红外光的能力随波段的不同而不同。某些波段的红外光很容易被吸收。，而有些波段的红外光不易被吸收，因此红外光谱线上会有波峰和波谷。对各种薄膜进行光谱分析，选择最常见、干扰最少的波段的红外光作为光源。红外测厚法一般分为两种，利用光反射原理的红外反射法和利用光衰减和吸收原理的红外透射法。反射式厚度测量已被广泛应用。其次，薄膜的厚度与光能衰减程度呈正相关。被测薄膜越厚，红外光的能量衰减越强，被薄膜反射回来的能量越少。通过检测反射信号强度，根据反射信号强度与薄膜厚度之间的函数关系来确定待测薄膜的厚度。

　　1.4涡流测厚

　　涡流测厚法主要用于镀层测厚，测量导电物体表面非导电镀层的厚度。涡流测量的原理是将交流信号加到测量探头的线圈上，产生电磁场。当导体靠近测量探头时，会产生涡流。测量探头离导体越近，涡流越大，反射阻抗也越大。反馈阻抗的大小表征了探头与导电基板之间的距离，即导电材料上非导电涂层的厚度。这个交流激励信号一定是高频的，高频时应该是电导率与电感的比值。的影响可以忽略不计，电感分量主要受距离变化的影响。当镀层材料具有一定的电导率时，也可以通过标定来测量，但要求基体和镀层的电导率至少相差3~5倍，涡流测厚仪才能有效检测有色金属、油漆、喷塑、橡胶等涂层表面的氧化膜，分辨率可达0.1μm，误差1%，测量范围可达10mm级。

　　1.5超声波测厚

　　深圳薄膜测厚仪厂家表示，超声波测厚是一种典型的接触测厚。使用时，超声波探头需要通过偶联剂与被测物体接触。超声波测厚有共振式和脉冲式两种。共振测厚的原理是超声波探头向物体发射入射波。当被测物体厚度为半波长的整数倍时，入射波与反射波同相，在被测工件中产生驻波，引起共振,最 后由共振频率可以得到待测工件对应的厚度,但这种测厚方法操作复杂,需要不断改变超声波的频率来求得波长.发生共振。另外，这种方法的测量误差比较大。