数字高度计50mm/1.0μm


数字高度计主要用于锂电隔膜、极片、模具、导轨、半导体、滚针、连接器等测量,量程50mm最小读数1.0μm,全量程精度≤3.0μm,适合薄膜、极片、滚针、连接器等小件精密测量,搭配不同比测台满足不同尺寸产品测量

详细介绍


关键词:

高度计、光栅千分表、模具测量、薄膜测量、极片测量、滚针测量

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