数字高度计50mm/0.1μm


数字高度计主要用于锂电隔膜、极片、模具、导轨、半导体、滚针、连接器等测量,最小读数0.1μm,全量程精度≤1.0μm,适合薄膜、极片、滚针等精密小件测量,可选择4种不同比测台满足不同工件需求测量

详细介绍


关键词:

数字高度计、薄膜测量、镜片测量、滚针测量、模具测量 、万分表、高精度比较测量

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